Suzhou Shengyifurui Electronic Technology Co., Ltd.
Deutsche
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Brand |
SFENG |
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Iterm number |
SF-P75 |
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Plating |
Gold plated |
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Lead time |
7 working days after receipt of payment |
Product Image
SF-P75-G
SF-P75-D
SF-P75-B
Our service
1. We can answer your request within 24 hours.
2. custom Design is available and OEM are welcome.
3. We can deliver the probe pins to our customers all over the world with speed and precision.
4. We can provide the lowest price with high quality products to our customers.
main products
spring pin (single) for PCBs, ICT, FCT testing etc;
Pogo pin (connector) to establish the connection between the two circuit boards for loading, location, battery, Semiconductor & interconnect applications;
double ended probe for BGA and semiconductor testing;
Universal pin without spring coat pin, pin LM with QZ and VZ series;
High current probe, Switch probe needle capacitance;
Terminal & receptacle / plug;
Other related electronic components, wire # 30 OK, Jig locks, POM, hinge iron etc.
Quality control
Packing Photo
Tel:008613862105944
Gesprächspartner:Mary
PDF-Show.:PDF
Sehr kundenspezifische Tee-Bearbeitungsmaschine, um Ihren besonderen Bedürfnissen zu erfüllen, ist die strikte Produktqualitätskontrolle für unsere Anforderung.
Modell: SF-PL50
Größe: L. 24,7 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P75
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P50
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-P160
Größe: L.24,5 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P75
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P50
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-PL50
Größe: L. 24,7 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-P50
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-PL50
Größe: L. 24,7 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-PL50
Größe: L. 24,7 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Material: Messing
Oberfläche: vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P100
Größe: L.33mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-P11
Größe: L.24mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P160
Größe: L.24,5 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-P160
Größe: L.24,5 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-P75
Größe: L.17mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Modell: SF-P75
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-PL50
Größe: L. 24,7 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Marke:SFENG
Modell: SF-P50
Größe: L. 16,4 mm
Material: Messing
Oberfläche: vernickelt oder vergoldet
Verpackung: Plastikbox und in Karton geladen
Kontaktwiderstand: ≤50mΩ
Voller Federweg: 4,0 mm
Federkraft: 200 ± 20 % gf bei einer Last von 3,0 mm
Lebensdauer: 300.000 Mal
Anwendung: Netzwerktests, Protokollanalyse, Quality of Service (QoS)-Tests, VoIP-Tests, Sicherheitstests.
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