Sonda de prueba FCT chapada en latón con buen rendimiento SF-P125-G1.02X2.2

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Sonda de prueba FCT chapada en latón con buen rendimiento SF-P125-G1.02X2.2

Marca:SFENG

Número de artículo: SF-P125-G1.02X2.2

Tamaño: diámetro2.55*L33.7mm

Émbolo: Fe, Ni plateado

Barril: Latón, chapado en Au sobre Ni

Primavera: SUS

Embalaje: bolsa de plástico y cargada en caja de cartón.

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Detalles de producto

Especificaciones de producción

Número de artículo	SF5150
Ración actual	3A
Resistencia de contacto	50mΩ
Viaje completo	5,7 mm
Carrera nominal	4,0 mm
Fuerza de la primavera	150±20%gf@ carga 4,0 mm
Cantidad mínima de pedido	100 Uds.
Pago	T/T
El tiempo de entrega	5-10 días después de recibir el pago

Producto Fotos

Producción Fluir

Pruebas Equipo

Embalaje

Principal productos

1. Pasador con resorte (simple) para pruebas de PCB, TIC, FCT, etc.

2.Pogo pin(conector)para establecer conexión entre dos placas de circuitos impresos para aplicaciones de carga, localización, baterías, semiconductores e interconectores;

3. Sondas de doble extremo para pruebas de BGA y semiconductores;

4. Pasador universal sin resorte, pasador de revestimiento, pasador LM con series QZ y VZ;

5. Sonda de alta corriente, sonda de interruptor, aguja de capacitancia;

6.Terminal&receptáculo/enchufe;

7.Otros componentes electrónicos relacionados, cerraduras Jig, POM, etc.

Cualquier cosa que desee, comuníquese con nosotros sin dudarlo y haremos todo lo posible para satisfacer sus requisitos dentro de nuestra capacidad.

Nuestro servicio

1.Podemos responder su consulta dentro de las 24 horas hábiles;

2.El diseño personalizado está disponible y los OEM son bienvenidos;

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Suzhou Shengyifurui Tecnología Electrónica Co., Ltd.

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