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Sonde de ressort commune pour l'essai de PCB
Article: SF-P125
Matériel: laiton
Taille: ø 2.01 * 33,4 millimètre
Emballage: boîte en plastique dans des cartonsÉtiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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Sonde commune de test de PCB P100-a
Article: SF-P100
Matériel: laiton
Électrodéposition: placage au ou ni électrodéposition;
Taille: ø 1,36 * 33
Emballage: boîte en plastique dans des cartonsÉtiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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electrical spring contact test probe for PCB test
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goupille de sonde de test SF-P50 Dia 0,68 mm longueur 16,4 mm
Marque: SFNG test broche de la sonde
Centre minimum recommandé: 1,27 mm
Voyage complet: 2,5 mm
Force de ressort: 100 g @ voyage 2/3
Baril: laiton, plaqué or sur ni plaqué
Plongeur: écus, or sur ni plaqué
Courant: 1.5 aÉtiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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1,36 par 33 test Probe pour PCB
Article: SF-P100
Matériel: laiton;
Électrodéposition: placage au ou ni;
Ration actuelle; 3;
Taille: ø 1,36 * 33;
Emballage: boîte en plastique dans des cartons;Étiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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La meilleure vente en Chine diamètre 0,68 millimètre au et ni ressort goupille de sonde chargée
Article: série SF-50;
Matériel: laiton, bronze, écus;
Électrodéposition: au ou nickel;
Ration actuelle: 1.5 a ou adapté aux besoins du client;
Taille: ø 0,68 * 16,4 mm;
Emballage: boîte en plastique dans des cartons;Étiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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Sonde à seize points SF-P100-h
Article: P100-h
Matériel: laiton ou autres;
Taille: 1,36 * 33;
Ration actuelle: 3 a;
Résistance de contact: 50mΩ;
Emballage: boîte en plastique et chargé dans le carton;Étiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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100pcs SF-P50 Dia 0,68 mm sonde de ressort
100pcs SF-P50 Dia 0,68 mm sonde de ressort
Nom de marque: sfeng
Numéro de modèle: SF-P50Étiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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Goupilles de contact électriques à ressort de goupille de sonde de Pogo
Article: SF-P125
Matériel: laiton
Taille: ø 2.01 * 33,4 millimètre
Emballage: boîte en plastique dans des cartonsÉtiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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Phosphor bronze spring loaded contact pins for PCB ICT test
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appareils électriques goupille à ressort
goupille à ressort
Piston : Becu, plaqué or
Baril : laiton, plaqué or
Fil de printemps : musique
Délai d’obtention : de taille standard, sonde, nous pouvons fournir du stock, si est customzied taille, nous pouvons fournir dans les 15 jours ouvrablesÉtiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs Printed Circuit Board Test
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Shengteng laiton plaqué broche de sonde en acier d’essai avec le prix le plus bas
Point : SF-sonde
Matériel : laiton
Taille : sur mesure
Emballage : boîtesÉtiquettes chaudes : Chine printemps broches pogo fournisseur Chine fournisseur de la sonde de test Chine fournisseur de la sonde de printemps Essais De Semiconducteurs
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