Résistance de contact : ≤50 mΩ
Course complète : 6,4 mm
Force du ressort : 200g
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité.

Résistance de contact : ≤50 mΩ
Course complète : 4,0 mm
Force du ressort : 200 ± 20 % gf à une charge de 3,0 mm
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité.

Résistance de contact : ≤50 mΩ
Course complète : 4,0 mm
Force du ressort : 150g
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité.

Résistance de contact : ≤50 mΩ
Course complète : 6,4 mm
Force du ressort : 200g
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité

Résistance de contact : ≤30 mΩ
Course nominale : 3,0 mm
Force du ressort : 100 ± 20 % gf à une charge de 3,0 mm
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité.

Résistance de contact : ≤50 mΩ
Course complète : 6,3 mm
Force du ressort : 250g
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité.

Résistance de contact : ≤50 mΩ
Course complète : 6,3 mm
Force du ressort : 120g
Durée de vie : 300 000 fois
Application : tests de réseau, analyse de protocole, tests de qualité de service (QoS), tests VoIP, tests de sécurité.

Résistance de contact : ≤30mΩ
Course nominale : 3,0 mm
Force du ressort : 100 ± 20 % gf à une charge de 3,0 mm
Durée de vie : 300 000 fois
Application : test de réseau, analyse de protocole, test de qualité de service (QoS), test VoIP, test de sécurité.

Résistance de contact : ≤30mΩ
Course nominale : 3,0 mm
Force du ressort : 100 ± 20 % gf à une charge de 3,0 mm
Durée de vie : 300 000 fois
Application : test de réseau, analyse de protocole, test de qualité de service (QoS), test VoIP, test de sécurité.

Résistance de contact : ≤30mΩ
Course nominale : 3,0 mm
Force du ressort : 100 ± 20 % gf à une charge de 3,0 mm
Durée de vie : 300 000 fois
Application : test de réseau, analyse de protocole, test de qualité de service (QoS), test VoIP, test de sécurité.

Résistance de contact : ≤50mΩ
Course nominale : 5,6 mm
Force du ressort : 120 ± 20 % gf à une charge de 5,6 mm
Durée de vie : 300 000 fois
Application : test de réseau, analyse de protocole, test de qualité de service (QoS), test VoIP, te

Type : Sonde de test TIC
Matière : laiton
Placage : plaqué or
Courant : 3A
Durée de vie : 300 000 fois