Suzhou Shengyifurui Electronic Technology Co., Ltd.

008613771901136
  Ελληνικά

Gold-Plated Conductive Test Probe Pin for ICT/FCT Test SF-P111

Σπίτι > Κατηγορία > ICT/FCT Test Probe  > Gold-Plated Conductive Test Probe Pin for ICT/FCT Test SF-P111

Εγγραφείτε

Λάβετε ενημερώσεις μέσω email για νέα προϊόντα

Επικοινωνήστε μαζί μας

Προσθήκη: Room 326, Tianlong Building, South Zhujiang Road, Mudu Town, Wuzhong District, Suzhou City, Jiangsu Province, China, 215101
Τηλ: 0086-512-68051148
Κινητό:008613771901136
Φαξ:0086-512-68051148-608
Διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου: leoxu@sf-probe.com
Gold-Plated Conductive Test Probe Pin for ICT/FCT Test SF-P111

Gold-Plated Conductive Test Probe Pin for ICT/FCT Test SF-P111

  • Materials and finishes: Plunger: SK4, Rh plated
  •                         Barrel: Phosphor bronze, Gold plated
  •                         Spring: Music wire, Gold plated
  • Spring force: 100g
  • Current ration: 1.5A
  • Contact resistance: 50mΩ
  • Application: PCB test, Battery test
  • Package: 100pcs/poly bag
  • MOQ: 100pcs
  • λεπτομέρειες προιόντος
 Model  SF-P50
 Product name  Spring loaded Contact Pin
 Recommended minimum center  1.27mm
 Mounting hole size  V: 0.90mm; W: 0.95mm
 Full travel  2.5
  
 
Suzhou Shengyifurui Electronic Technology Co., Ltd

Τηλ:008613862105944

Πρόσωπο επικοινωνίας:Mary

Pdf show:Pdf

Στείλτε μας μια έρευνα
Θα επικοινωνήσουμε μαζί σας το συντομότερο δυνατόν!
Τηλέφωνο
Τηλέφωνο
WeChat
Ομάδες
Whatsapp
captcha
Εάν έχετε ερωτήσεις ή προτάσεις, παρακαλούμε να μας αφήσετε ένα μήνυμα, θα σας απαντήσουμε το συντομότερο δυνατόν!