Suzhou Shengyifurui Electronic Technology Co., Ltd.
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China-Lieferant ICT-Testsonde SF-PH3.0*43.0-H3.0
- Artikel: SF-PH3.0*43.0-H3.0
- Material: Schaft: Messing, Au auf Ni plattiert
- Kolben: Ph, Au auf Ni-plattiert
- OBEN: Becu, Au auf Ni plattiert
- Feder: SUS
- Größe: L.43mm
- Aktuelle Bewertung: 5A
- Kontaktwiderstand: 10 mΩ
- Voller Hub: 8,0 mm
- Nennhub: 5,0 mm
- Federkraft: 500g
- Verpackung: Kunststoffbox in Kartons;
- Produktdetails
ICT-Prüfsonde SF-PH3.0*43.0-H3.0
Produktbild
| Größe | øL.43mm |
| Material | Schaft: Messing, Au auf Ni plattiert Kolben: Ph, Au auf Ni-plattiert OBEN: Becu, Au auf Ni plattiert Feder: SUS |
| Mindestbestellmenge | 1000 Stück |
| Verpackung | Plastikbox in Kartons |
| Vorlaufzeit | ca. 7 Arbeitstage |
Unser Service
1. Wir können Ihre Anfrage innerhalb von 24 Arbeitsstunden beantworten.
2. Kundenspezifisches Design ist verfügbar und OEM sind willkommen.
3. Wir können die Prüfstifte schnell und präzise an unsere Kunden auf der ganzen Welt liefern.
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Hauptprodukte
Federbelasteter Stift (einzeln) für PCB-, ICT-, FCT-Tests usw.;
Pogo-Pin (Stecker) zum Herstellen einer Verbindung zwischen zwei Leiterplatten für Lade-, Ortungs-, Batterie-, Halbleiter- und Verbindungsanwendungen;
Doppelendige Sonde für BGA- und Halbleitertests;
Universalstift ohne Feder, Beschichtungsstift, LM-Stift mit QZ- und VZ-Serie;
Hochstromsonde, Schaltsonde, Kapazitätsnadel;
Anschluss und Buchse/Buchse;
Andere verwandte elektronische Komponenten, 30# OK-Kabel, Vorrichtungsschlösser, POM, Eisenscharniere usw
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