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중국 공급업체 ICT 테스트 프로브 SF-PH3.0*43.0-H3.0

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중국 공급업체 ICT 테스트 프로브 SF-PH3.0*43.0-H3.0

중국 공급업체 ICT 테스트 프로브 SF-PH3.0*43.0-H3.0

  • 품목: SF-PH3.0*43.0-H3.0
  • 재질: 배럴: 황동, Ni 도금 Au
  • 플런저: Ph, Au on ni 도금
  • 상단: Ni 도금된 Becu, Au
  • 봄: SUS
  • 크기: L.43mm
  • 현재 등급:5A
  • 접촉 저항: 10mΩ
  • 전체 스트로크: 8.0mm
  • 정격 스트로크: 5.0mm
  • 스프링 힘: 500g
  • 포장: 플라스틱 상자를 상자에 넣습니다.
  • 제품 세부 정보

ICT 테스트 프로브 SF-PH3.0*43.0-H3.0

제품 사진

크기 øL.43mm
재료 배럴: 황동, Au/Ni 도금
플런저: Ph, Au on ni 도금
상단: Ni 도금된 Becu, Au
봄: SUS
MOQ 1000개
포장 판지에 플라스틱 상자
리드타임 약 7 근무일 일


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충전, 위치 확인, 배터리, 반도체 및 인터커넥트 애플리케이션을 위해 두 개의 인쇄 회로 기판 사이를 연결하는 포고 핀(커넥터)

BGA 및 반도체 테스트용 더블 엔드 프로브;

스프링이 없는 범용 핀, 코팅 핀, QZ 및 VZ 시리즈가 있는 LM 핀;

고전류 프로브, 스위치 프로브, 커패시턴스 바늘;

터미널 및 콘센트 /소켓;

기타 관련 전자 부품, 30# OK 와이어, 지그 잠금 장치, POM, 철 힌지 등

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