Suzhou Shengyifurui Electronic Technology Co., Ltd.

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standard size spring test probe for ICT FCT contacts

Domicile > Catégorie > TIC / FCT Sonde de test  > standard size spring test probe for ICT FCT contacts

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standard size spring test probe for ICT FCT contacts

standard size spring test probe for ICT FCT contacts

  • ICT/FCT contact probes
  • plunger:Becu or brass material,gold plating
  • barrel:brass,gold plating
  • spring:stainless steel or music wire
  • samples:we can provide free samples for your test
  • détails du produit
  • standard size spring test probe for ICT FCT contacts
Suzhou Shengteng Electronic Co.Ltd is mainly produce spring test probe for PCB,ICT and FCT test.The most common test mothods in the quality inspection of electronic assemblies are the In-Circuit Test (ICT), and the Functional Test (FCT). 
About the ICT/FCT contacts the most common designs of test probes are shown as below. Most of them are compatible with other brands on the international market. If you didn't find the suitable size for you, please just call us - we assist you in direct consultation.
Series Overall length   Barrel dia  Maximum travel   Recomm.travel Current rating 
 SF-P11  24 ø1.01   4.0 2.6  2-3A
 SF-P111  33.3 ø1.01   6.3  4.2 2-3A 
SF-P100  33 ø1.36 6.4   4.2  2-3A
 SF-P125  33.3 ø2.01  6.3  4.2  2-3A 
 SF-P156  33.4 ø2.36  6.3   4.2 2-3A
Spring test probe product pictures



Suzhou Shengteng Electronic Co.,Ltd factory show

Technologie électronique Cie., Ltd de Suzhou Shengyifurui

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