쑤저우 Shengyifurui 전자 기술 Co., 주식 회사.
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반도체 테스트 프로브는 칩 회로를 테스트하는 데 사용되는 도구입니다. 칩 표면의 전기적 테스트에 사용할 수 있는 매우 얇은 니들 팁으로 구성되어 있습니다. ( 전자 테스트 프로브 도매 중국) 반도체 테스트 프로브는 일반적으로 칩의 전기적 특성, 전력 소비, 신호 무결성, 타이밍, 온도 및 기타 매개 변수를 테스트하는 데 사용됩니다. 반도체 테스트의 중요한 구성 요소이며 반도체 제조, 칩 설계 및 테스트와 같은 분야에서 자주 적용됩니다.
반도체 테스트 프로브는 일반적으로 니들 헤드, 니들 테일, 스프링 및 외부 튜브의 네 가지 기본 구성 요소로 구성되며 정밀 기기에 의해 리벳으로 고정되고 사전 압착된 후 형성됩니다.
반도체 테스트 프로브(고주파 프로브)는 주로 BGA 칩 테스트에 사용되며,( 다른 크기 functionla 프로브 공급 업체 중국) 마이크로 BGA 부품, 테스트 랙, 휴대폰, 컴퓨터, 통신 등 애플리케이션 등급은 500MHz이며 테스트에 사용되는 핀 수는 특정 BGA IC 및 고정 장치 사양에 따라 다릅니다. 테스트 픽스처 사이의 간격은 0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM로 다양합니다.
반도체 테스트 프로브(고주파 프로브)는 주로 휴대폰, 컴퓨터, 통신 등의 산업에서 사용됩니다. 거의 모든 주요 칩 산업에서 반도체 테스트 프로브의 사용을 촉진하고 있으며, 칩 패키징 테스트 산업에서 가장 수요가 많습니다.
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