Vergulde ICT-testprobe met gekartelde punt SF-PA100-H

Huis > Categorie > ICT/FCT-testsonde > Vergulde ICT-testprobe met gekartelde punt SF-PA100-H

Bladeren door rubrieken

Inschrijven

Ontvang e-mailupdates over nieuwe productenOntvang e-mailupdates over nieuwe producten

Vergulde ICT-testprobe met gekartelde punt SF-PA100-H

Artikel: SF-PA100-H

Materiaal: Messing

Afwerking: vernikkeld of verguld

Maat: 1.36*33

Verpakking: plastic doos en geladen in karton

Weergaveparameters Contact nu

Productdetails

Productspecificatie

Merk	SFENG
Item nummer	SF-PA100-H
Plunjer	messing
Loop	messing
Lente	SUS of muziekkabel
Lente kracht	200g
Volledige reis	6.40(0.2520"")
Huidig rantsoen	3A
Huidige Weerstand	W
Toonhoogte	2,54(0,1000"")
Afmeting montagegat	1,70(0,0670"")/1,75(0,0689"")
MOQ	100 st
Doorlooptijd	7 werkdagen na ontvangst van de betaling

Productfoto

Foto inpakken

Onze service

1. We kunnen uw vraag binnen 24 werkuren beantwoorden.

2. Aangepast ontwerp is beschikbaar en OEM is welkom.

3. We kunnen de sondepennen snel en nauwkeurig aan onze klanten over de hele wereld leveren.

4. We kunnen onze klant de laagste prijs bieden met een product van hoge kwaliteit.

hoofd producten

Veerbelaste pen (enkel) voor PCB-, ICT-, FCT-testen enz.;

Pogo-pin (connector) om een verbinding tot stand te brengen tussen twee printplaten voor opladen, lokaliseren, batterij-, halfgeleider- en interconnect-toepassingen;

Dubbelzijdige sonde voor BGA- en halfgeleidertesten;

Universele pen zonder veer, coatingpen, LM-pen met QZ- en VZ-serie;

Hoge huidige sonde, Schakelaarsonde, Capaciteitsnaald;

Terminal & contactdoos / contactdoos;

Andere gerelateerde elektronische componenten, 30 # OK-draad, Jig-sloten, POM, ijzeren scharnier enz

Kwaliteitscontrole