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Sonda per test ICT placcata in oro con punta seghettata SF-PA100-H

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Sonda per test ICT placcata in oro con punta seghettata SF-PA100-H

Sonda per test ICT placcata in oro con punta seghettata SF-PA100-H

  • Articolo: SF-PA100-H
  • Materiale: ottone
  • Finitura: Ni-placcato o placcato oro
  • Dimensioni: 1.36*33
  • Imballaggio: scatola di plastica e caricata in cartone
  • Dettagli del prodotto

Specifiche di prodotto

Marca

SFENG

Codice articolo

SF-PA100-H

Stantuffo

ottone

Barile

ottone

Primavera

SUS o filo musicale

Forza della molla

200 g

Viaggio completo

6,40(0,2520"")

Razione corrente

3A

Resistenza corrente

W

Pece

2,54(0,1000"")

Dimensione del foro di montaggio

1,70(0,0670"")/1,75(0,0689"")

MOQ

100 pz

Tempi di consegna

7 giorni lavorativi dopo aver ricevuto il pagamento


Immagine del prodotto

Immagine dell'imballaggio

Nostro servizio

1. Possiamo rispondere alla tua richiesta entro 24 ore lavorative.

2. Il disegno personalizzato è disponibile e l'OEM è accolto favorevolmente.

3. Possiamo consegnare i pin della sonda ai nostri clienti in tutto il mondo con velocità e precisione.

4. Possiamo fornire al nostro cliente il prezzo più basso con un prodotto di alta qualità.

Prodotti Principali

Pin caricato a molla (singolo) per test PCB, ICT, FCT ecc.;

Pogo pin (connettore) per stabilire la connessione tra due circuiti stampati per applicazioni di ricarica, localizzazione, batterie, semiconduttori e interconnessione;

Sonda a doppia estremità per test BGA e semiconduttori;

Perno universale senza molla, perno rivestimento, perno LM con serie QZ e VZ;

Sonda ad alta corrente, sonda di commutazione, ago capacitivo;

Terminale e presa/presa;

Altri componenti elettronici correlati, cavo 30 # OK, serrature Jig, POM, cerniera in ferro ecc


Controllo di qualità

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Suzhou Shengyifurui Electronic Technology Co., Ltd

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Referente:Mary

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