SFENG Test probe pin with double head pin

Дом > Категория > Дважды голову Пого контактный > SFENG Test probe pin with double head pin

Обзор категорий

Получайте обновления по электронной почте о новых продуктах

SFENG Test probe pin with double head pin

Пункт: Двуглавый подпружиненный штифт

Материал: Латунь или BeCu

-Plating: Позолоченный или никелированные

Жёсткости: SUS / SWP

-Life Тест: 100000 ~ 1000.000 циклов

-Номинальный Ток и напряжение: DC12V; 1A ~ 15A,

-Контактная Сопротивление: 30 МОм Макс.

Упаковка: пластиковая коробка в картонные коробки

Отображение параметров Связаться сейчас

информация о продукте

Спецификации продукта

марка	SFENG
Номер предмета	Двуглавый подпружиненный штифт
обшивка	Ni-гальваническим или позолоченный
Время выполнения заказа	7 рабочих дней после получения оплаты

Изображение продукта

Наш сервис

1. Мы можем ответить ваш запрос в течение 24 рабочих часов.

2. Индивидуальные дизайн доступен и OEM приветствуются.

3. Мы можем поставить зонд булавки для наших клиентов по всему миру со скоростью и точностью.

4. Мы можем обеспечить самая низкая цена с высоким качеством продукции нашему клиенту.

Основные продукты

Подпружиненный штифт (одиночный) для печатной платы, ICT, FCT тестирования и т.д.;

Пого контактный (разъем), чтобы установить соединение между двумя печатными платами для зарядки, размещая, батареи, Semiconductor & Amp; приложения Interconnect;

Двухсторонние зонд для BGA и тестирования полупроводников;

Универсальный контактный без пружины, покрытие булавка, LM булавка с QZ и серии VZ;

Высокий датчик тока, переключатель датчика, емкость иглы;

Терминал & Amp; розетка / розетка;

Прочие связанные электронные компоненты, 30 # OK провод, Jig замки, POM, железный шарнир и т.д.

Контроль качества